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美國(guó)GET CONTROL-手持式測(cè)試儀-E84 HHT
E84 手持式測(cè)試儀( E84 HHT ) 是用于快速測(cè)試、故障排除和解決 E84 問(wèn)題的工具。這種獨(dú)立的電池供電工具集成了E84 仿真器中提供的業(yè)界領(lǐng)頭的自動(dòng)...
型號(hào):
所在地:天津市
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面議更新時(shí)間:2024/8/23 17:08:36
對(duì)比
GET CONTROLGET CONTROL-手持式測(cè)試儀手持式測(cè)試儀-E84 HHTGET CONTROL美國(guó)測(cè)試儀
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美國(guó)ATEQ微分質(zhì)量流量測(cè)試儀MF520
質(zhì)量流技術(shù)將通過(guò)層流元件的空氣質(zhì)量轉(zhuǎn)換為泄漏值。如果測(cè)試部件發(fā)生泄漏,參考部件和該泄漏之間將發(fā)生流動(dòng),迫使空氣通過(guò)質(zhì)量流量測(cè)量裝置,該裝置將其轉(zhuǎn)換為泄漏值,如c...
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所在地:天津市
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面議更新時(shí)間:2024/8/9 16:03:13
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美國(guó)ATEQATEQ微分質(zhì)量流量測(cè)試儀微分質(zhì)量流量測(cè)試儀MF520ATEQ美國(guó)測(cè)試儀
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MF520-ATEQ微分質(zhì)量流量測(cè)試儀
質(zhì)量流技術(shù)將通過(guò)層流元件的空氣質(zhì)量轉(zhuǎn)換為泄漏值。如果測(cè)試部件發(fā)生泄漏,參考部件和該泄漏之間將發(fā)生流動(dòng),迫使空氣通過(guò)質(zhì)量流量測(cè)量裝置,該裝置將其轉(zhuǎn)換為泄漏值,如c...
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所在地:天津市
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ATEQATEQ微分質(zhì)量流量測(cè)試儀MF520-ATEQ美國(guó)ATEQ美國(guó)測(cè)試儀
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日本ALNAIR誤碼率測(cè)試儀BERT-250E-4CH
28Gbps x 4ch誤碼率測(cè)試儀比特率從25.0 Gb/s到28.0 Gb/s同時(shí)進(jìn)行4通道誤碼率測(cè)量
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面議更新時(shí)間:2024/4/29 14:42:37
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日本ALNAIRALNAIR誤碼率測(cè)試儀誤碼率測(cè)試儀BERT-250E-4CH日本測(cè)試儀ALNAIR
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Quantum Design-測(cè)試儀-F71
高斯計(jì)和特斯拉姆計(jì)可以測(cè)量直流和交流磁場(chǎng),并控制直流磁場(chǎng)。為此,高斯計(jì)需要一個(gè)合適的霍爾探頭。所提供的系統(tǒng)包括單軸和多軸系統(tǒng),非常適合工業(yè)和科研應(yīng)用。高斯計(jì)為臺(tái)...
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面議更新時(shí)間:2024/4/15 13:44:43
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Quantum DesignQuantum Design-測(cè)試儀測(cè)試儀-F71德國(guó)Quantum Design德國(guó)測(cè)試儀
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GET CONTROL-手持式測(cè)試儀-E84 HHT
E84 手持式測(cè)試儀( E84 HHT ) 是用于快速測(cè)試、故障排除和解決 E84 問(wèn)題的工具。這種獨(dú)立的電池供電工具集成了E84 仿真器中提供的業(yè)界領(lǐng)頭的自動(dòng)...
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面議更新時(shí)間:2024/1/29 14:28:06
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GET CONTROLGET CONTROL-手持式測(cè)試儀手持式測(cè)試儀-E84 HHT美國(guó)GET CONTROL美國(guó)手持式測(cè)試儀
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FISCHER手持式材料測(cè)試儀SIGMASCOPE
它是一種小巧的手持式儀器,用于測(cè)量非鐵金屬的電導(dǎo)率。它能快速、準(zhǔn)確地測(cè)量鋁或銅的電導(dǎo)率。
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面議更新時(shí)間:2023/12/14 15:40:44
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FISCHERFISCHER手持式材料測(cè)試儀SIGMASCOPE德國(guó)FISCHER德國(guó)手持式材料測(cè)試儀
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AVANZARE氧化石墨烯av-GOX-70
我們的石墨烯添加劑以其高導(dǎo)電性、高導(dǎo)熱性和良好的基體整合性等特性而聞名。出于研究目的,我們提供各種等級(jí)并根據(jù)要求量身定制。
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面議更新時(shí)間:2023/12/14 14:48:50
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AVANZAREAVANZARE氧化石墨烯氧化石墨烯av-GOX-70西班牙AVANZARE西班牙氧化石墨烯
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ARS低溫恒溫器LT3-OM
LT3-OM 具有其他低溫恒溫器所不具備的功能,專為微拉曼光譜實(shí)驗(yàn)以及其他類型的低振動(dòng)光譜和顯微鏡實(shí)驗(yàn)而設(shè)計(jì)。
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面議更新時(shí)間:2023/12/14 14:42:22
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ARSARS低溫恒溫器低溫恒溫器LT3-OM美國(guó)低溫恒溫器美國(guó)ARS
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SOLO-熱探測(cè)器測(cè)試儀-Solo 423
現(xiàn)在,世界各地的主要國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)都要求對(duì)具有熱源的熱探測(cè)器進(jìn)行功能檢查。使用并非為此目的設(shè)計(jì)的熱源進(jìn)行測(cè)試可能既危險(xiǎn)又具有破壞性。
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面議更新時(shí)間:2023/11/30 14:48:26
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SOLOSOLO-熱探測(cè)器測(cè)試儀熱探測(cè)器測(cè)試儀-Solo 423英國(guó)SOLO英國(guó)熱探測(cè)器測(cè)試儀
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ATEQ微分質(zhì)量流量測(cè)試儀MF520
質(zhì)量流技術(shù)將通過(guò)層流元件的空氣質(zhì)量轉(zhuǎn)換為泄漏值。如果測(cè)試部件發(fā)生泄漏,參考部件和該泄漏之間將發(fā)生流動(dòng),迫使空氣通過(guò)質(zhì)量流量測(cè)量裝置,該裝置將其轉(zhuǎn)換為泄漏值,如c...
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參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2023/11/30 13:49:02
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ATEQ微分質(zhì)量流量測(cè)試儀微分質(zhì)量流量測(cè)試儀MF520美國(guó)ATEQ美國(guó)微分質(zhì)量流量測(cè)試儀美國(guó)MF520
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NORMALAB閃點(diǎn)測(cè)試儀NPM Tech
NORMALAB閃點(diǎn)范圍是所選技術(shù)和功能的組合,價(jià)格水平與半自動(dòng)化儀器相當(dāng)。操作員的干預(yù)減少到更低限度,而可用的軟件、電子組件和設(shè)計(jì)提供了可靠性和結(jié)果的可追溯性...
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面議更新時(shí)間:2023/11/29 15:22:58
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NORMALAB閃點(diǎn)測(cè)試儀閃點(diǎn)測(cè)試儀NPM Tech法國(guó)NORMALAB法國(guó)閃點(diǎn)測(cè)試儀法國(guó)NPM Tech
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美國(guó)APRESYS長(zhǎng)距離激光測(cè)距儀LRB10km
方位角斜率+/- 90測(cè)量運(yùn)動(dòng)對(duì)象可用存儲(chǔ)并檢查測(cè)量數(shù)據(jù)LCD和照明計(jì)算測(cè)量數(shù)據(jù)的平均值
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面議更新時(shí)間:2023/11/27 14:24:32
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美國(guó)APRESYSAPRESYS長(zhǎng)距離激光測(cè)距儀美國(guó)APRESYS長(zhǎng)距離激光測(cè)距儀長(zhǎng)距離激光測(cè)距儀LRB10km美國(guó)測(cè)距儀
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日本ALNAIR光學(xué)測(cè)試儀OMT-1110
提供功率傳感器,衰減器和光開關(guān)靈活地針對(duì)不同應(yīng)用進(jìn)行定制內(nèi)置波形長(zhǎng)度監(jiān)控功能
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所在地:天津市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2023/11/27 14:22:07
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日本ALNAIRALNAIR光學(xué)測(cè)試儀光學(xué)測(cè)試儀OMT-1110日本ALNAIR光學(xué)測(cè)試儀日本光學(xué)測(cè)試儀